Campo di vista – Area del campione visibile attraverso l’oculare; dipende dal numero di campo (FN) dell’oculare e dall’ingrandimento dell’obiettivo.
Campo oscuro (dark-field) – Tecnica di illuminazione in cui la luce diretta non entra nell’obiettivo; solo la luce diffratta o dispersa dal campione forma l’immagine, che appare luminosa su sfondo nero.
Campo piatto (plan) – Caratteristica degli obiettivi “plan” o “planachromat” che garantisce la messa a fuoco uniforme sull’intero campo visivo, senza curvatura di campo.
Centramento del condensatore – Procedura di allineamento del condensatore rispetto all’asse ottico del microscopio per ottenere un’illuminazione uniforme.
Coassiale – Riferito ai comandi di messa a fuoco (grossolana e fine) che condividono lo stesso asse, tipicamente nella stessa manopola con due anelli concentrici.
Coerenza della luce – Proprietà della luce che descrive la stabilità di fase; la luce coerente (es. laser) produce interferenze, quella incoerente (es. alogena) no.
Coma – Aberrazione geometrica per cui punti fuori asse appaiono come macchie con coda a forma di cometa.
Condensatore – Lente o sistema di lenti posto sotto il piano portaoggetti che concentra la luce proveniente dalla fonte luminosa sul campione.
Condensatore di Abbe – Condensatore semplice a due lenti, economico ma non corretto per le aberrazioni; adatto per ingrandimenti medio-bassi.
Condensatore acromatico – Condensatore corretto per l’aberrazione cromatica; fornisce immagini più nitide e cromaticamente fedeli rispetto al condensatore di Abbe.
Condensatore a campo oscuro – Condensatore speciale che illumina il campione solo con raggi obliqui, impedendo alla luce diretta di entrare nell’obiettivo; usato nella tecnica dark-field.
Condensatore DIC – Condensatore provvisto di prisma di Nomarski per la tecnica di contrasto interferenziale differenziale.
Confocale – Microscopio a scansione laser in cui pinholes coniugati eliminano la luce fuori fuoco, consentendo la ricostruzione tridimensionale del campione.
Contrasto – Differenza di luminosità o colore tra diverse parti dell’immagine; determina la visibilità dei dettagli del campione.
Contrasto di fase – Tecnica ottica (inventata da Frits Zernike) che converte le differenze di indice di rifrazione del campione in differenze di contrasto visibili, senza colorazione.
Contrasto interferenziale differenziale (DIC / Nomarski) – Tecnica che sfrutta due fasci di luce polarizzata leggermente spostati per produrre un’immagine con effetto tridimensionale in rilievo.
Coprivetro – Sottile lamina di vetro (o plastica) posizionata sopra il campione sul vetrino; il suo spessore standard è 0,17 mm (designato #1.5) e influenza la qualità dell’immagine negli obiettivi ad alta apertura numerica.
Correzione della distanza tubo – Correzione applicata agli obiettivi per compensare la lunghezza meccanica del tubo del microscopio (160 mm nei vecchi sistemi, infinito nei moderni).
Curvatura di campo – Aberrazione per cui il piano di fuoco non è piatto ma curvo; corretta negli obiettivi “plan”.
