EBSD – Electron Backscatter Diffraction; tecnica SEM per l’analisi della struttura cristallina dei materiali.
EDX / EDS – Energy Dispersive X-ray Spectroscopy; analisi della composizione elementare del campione tramite raggi X emessi per eccitazione elettronica in un SEM/TEM.
Elettrone – Particella subatomica carica negativamente usata come sonda nei microscopi elettronici al posto della luce visibile.
Epi-illuminazione – Illuminazione del campione dall’alto, attraverso l’obiettivo stesso; usata nella microscopia a fluorescenza e nei microscopi metallografici.
Episcopio – Microscopio o dispositivo che proietta immagini ingrandite di oggetti opachi su uno schermo.
ESCA / XPS – Electron Spectroscopy for Chemical Analysis; tecnica di analisi superficiale complementare alla microscopia elettronica.
Essiccamento critico – Tecnica di preparazione del campione (con CO₂ supercritica) per evitare la deformazione delle strutture biologiche durante l’essiccamento; usata prima della microscopia SEM.
